ELECTRICAL PROPERTIES OF THIN FILMS AND NANOSTRUCTURES BASED ON LEAD CHALCOGENIDES
Keywords:
lead chalcogenides, nanocrystals, surface topology, growth mechanisms.Abstract
The dependence of kinetic parameters from thickness for PbTe polycrystalline films are research. If the diffuse scattering of charge carriers were calculated the effective free path length, surface and grain-size mobility and features grain. Feature of scattering mechanisms charge carriers in lead telluride nanostructures deposited on polyamide film substrates and tin telluride deposited on mica from thickness are shown. The dominant role of scattering on the surface or grain within determined structural state condensates are research.
The dependence of kinetic parameters from thickness for PbTe polycrystalline films of different thicknesses (0,16-0,54 mkm) from time of their exposure to air. The mechanism of diffusion processes which leading to changes in electrical properties of thin films with time are determined.
References
2. Поверхностные свойства твердых тел.; Под. ред. М. Грина. – М.: Мир, 1972. – 432 с.
3. Thickness Dependence of Hall Mobility of HWE Grown PbTe Films / P.R. Vaya, J. Majht, B.S.V. Gopalam, C. Dattatrepan // Phys. Stat. Sol. (a), 87(341), pp. 341-350 (1985).
4. Розсіяння носіїв заряду в епітаксійних плівках PbTe / Д.М. Фреїк, В.Ф. Пасічняк, О.Л. Соколов, Б.С. Дзундза // Український фізичний журнал, 50(11), сс. 1250-1252 (2005).
5. N.S. Lidorenko, A.M. Gas’kow, Z.M. Dashevskii, and M.P. Rulenko, Dokl. Akad. Nauk SSSR 301(89) (1988) [Sov. Phys. Dokl. 33(512) (1988)].
6. Z. Dashevsky, Proceedings of 16 th International Conference on Thermoelectrics, Dresden, Germany. – 1997. – Р. 255.
7. Браташевский Ю.А. Влияние структуры на электропроводность поликристалических пленок PbTe / Ю.А.Браташевский, В.Д.Окунев, З.А. Самойленко // Неорганические материалы. – 1985. – No21(7). – С. 1124-1129.
8. Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме / Ю.З. Бубнов, М.С. Лур’є, Ф.Г. Старос, Г.А. Филаретов. – Л.: Энергия, 1975. – 161 с.
9. Tellier C.R., Tosser A.J., Boutrit C. // Thin Solid Films, 44, 201 (1977)
10. Розмірні ефекти в термоелектричних властивостях наноструктурованих плівок телуриду свинцю / Д.М. Фреїк, А.П. Шпак, Б.С. Дзундза,
І.І. Чав’як, В.В. Бачук, Ю.А. Куницький // Фізика i хімія твердого тіла. – 2010. – No11(2). – 112 c.
11. Вплив атомних і структурних дефектів на електронні процеси в епітаксійних плівках телуридів олова і свинцю: Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / М.В. Пиц / Прикарпат. ун-т ім. В.Стефаника. — Івано-Франківськ, 20 с. (2001).
12. Effect of oxidation on the thermoelectric properties of PbTe and PbS epitaxial films / E.I. Rogacheva, I.M. Krivulkin, O.N. Nashchekina, A.Yu. Sipatov, V.V. Volobuev and M.S. Dresselhaus // Appl. Phys. Lett. – 2001. – No78(12). – Р. 1661-1663.
13. R.L. Petritz, F.L. Lummis, H.E. Sorrow, J.F. Woods, in R.H. Kingston (ed.), Semiconductor Surface Physics, Univ. of Pennsylvania Press, Philadelphia, p. 229 (1957).
